دانلود تحقیق با موضوع مقایسه چگالی حالت ها در نیم رساناهای سه دو یک و صفر بعدی،
در قالب word و در 10 صفحه، قابل ویرایش.
بخشی از متن تحقیق:
آنالیز طیف پراش اشعه¬ی ايکس
تکنیک XRD برای تعیین ساختار بلوری مواد و نیز تعيين متوسط اندازه¬ی ذرّات به طور گسترده مورد استفاده قرار می¬گیرد. همچنین از آنجا که نقش پراش اشعه¬ی ایکس برای مواد گوناگون متفاوت است. از این تکنیک برای تعیین ترکیبات موجود در یک نمونه نیز استفاده
می شود.
اصول XRD
پرتوهاي ايکس شامل امواج الكترومغناطيس با طول موج حدود 1 هستند. بلورهائی كه آرايش اتمی منظم و ثابت شبکه حدّود 1 دارند، مي¬توانند به عنوان توري¬هاي پراش پرتو ايکس به كار روند. هنگامي كه پرتو ايکس با اتم¬هاي يك جامد بلورين برخورد مي¬كند از هر اتم امواجي توليد مي¬شود كه در تمام جهات تابش مي¬كنند. موج برآيند، تداخل بين تمام مراكز پراكننده است. اتم¬هاي واقع بر هر صفحه بلور، در برابر موج فرودي همانند آيينة نيم نقره اندود عمل مي¬كنند. يعني بخشي از موج را باز مي¬تابانند و بقيه را عبور مي¬دهند. منطقی است که به جاي بررسي تداخل بين تمام امواج پراکنده شده، تداخل بين امواجي كه از صفحات موازي براگ بازتابيده شده¬اند بررسي شوند. شرط آنكه امواج بازتابيده از صفحات براگِ موازي و مجاور، تداخل سازنده داشته باشند به صورت روبرو است که آن را شرط براگ گویند.
دانلود فایل”تحقیق مقایسه چگالی حالت ها در نیم رساناهای سه دو یک و صفر بعدی”